Metodoak, eremu hurbileko mikroskopian oinarrituta dagoenak, bide berriak ireki ditu performantzia handiko materialen propietate mekanikoak aztertzeko edo tentsioan oinarrituta diseinatutako tresna elektronikoen eroankortasuna ukitu gabe kartografiatzeko (Nature Nanotechnology, on-line argitalpen aurreratua, 2009ko urtarrilaren 11).>
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El método, basado en microscopía de campo cercano, abre nuevas vías para analizar las propiedades mecánicas de los materiales de altas prestaciones o para cartografiar sin contacto la conductividad local en aparatos electrónicos diseñados en base a la tensión (Nature Nanotechnology, publicación on-line avanzada, 11 de enero de 2009).
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